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美國(guó)GE雙晶直探頭MSEB2
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：MSEB2 加工定制：否 用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE雙晶直探頭MSEB2
美國(guó)GE雙晶直探頭MSEB2 使用耐磨的塑料延遲線，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
·延遲線由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
·在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量
·加上特殊的延遲線（特殊產(chǎn)品）能夠在高溫表面測(cè)量。
主要特性：
·獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元
·縱波垂直傳輸
·小焦距探頭具有非常好的近場(chǎng)分辨率
·使用耐磨的塑料延遲線，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
·延遲線由一個(gè)金屬環(huán)保護(hù)以防磨損
·在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測(cè)量
·加上特殊的延遲線（特殊產(chǎn)品）能夠在高溫表面測(cè)量
特性：非常好的近場(chǎng)分辨率
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡(jiǎn)短注釋說(shuō)明
O= 提供探頭數(shù)據(jù)表
O= 提供DGS標(biāo)尺
關(guān)于表中數(shù)據(jù)的解釋，見(jiàn)第4頁(yè)中選擇標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)于聲束形狀見(jiàn)第37頁(yè)中聲束形狀編號(hào)。
*) 用于無(wú)衰減材料時(shí)規(guī)定的工作范圍上限。類型
[訂購(gòu)號(hào)碼]a×b [mm] f [MHz] AB* [mm] N [mm] EB [mm] 聲束形狀
編號(hào)備注 草圖 特性帶寬：65% DA0.8G 20Ø 0.8 3-400 35 8 0.8-20/2 用于高衰減 類型15 特性帶寬：40% SEB1
SEB2
SEB2-0°
SEB4
SEB4-0°21Ø
7×18
7×18
6×20
6×201
2
2
4
43-400
2-1000
4.5-2000
1.5-2000
4-400020
15
30
12
2510
5
5
2.5
2.51-21/2
2-7×18
2-7×18-0
4-6×20
4-6×20-00°意味著
兩個(gè)單元的
公共角度是
0°
帶寬100%類型15
類型16
類型17MSEB2
MSEB4
MSEB4-0°
MSEB511Ø
3.5×10
3.5×10
9Ø2
4
4
52-400
1-1500
1.5-2000
0.5-2008
10
18
105
2.5
2.5
12-11/2
4-3.5×10
4-3.5×10-0
5-9/2SEB2KF5
SEB4KF8
SEB5KF38 Ø
8 Ø
8 Ø2
4
51.5-350
0.8-400
0.5-806
6
34
2
12-8/2
4-8/2
5-8/2SEB10KF3 5 Ø 10 0.3-140 3 0.5 10-5/2 類型18 SEZ5M5 3 Ø 5 0.6-50 3 1 5-3/2 固定電纜(2m) 類型19 合成單元，特性帶寬70% SEK2C 7×18 2 1.5-1500 15 4 2-7×18 類型15 MSEK2
MSEK411 Ø
3.5×102
41.5-450
1-20008
104
22-11/2
4-3.5×10類型16
附件描述 類型 備注 探頭電纜（2米）
耦合劑SEKG2
SEKM2
ZG-F用于SEB..,SEK..,MSEB..,
MSEK.., DA0.8G
用于SEB.KF.
見(jiàn)36頁(yè) -
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
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- 工業(yè)相機(jī)
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- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
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- 鈍化膜測(cè)試儀
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- 地下管線探測(cè)
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- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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