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V260-SM探傷儀探頭美國(guó)泛美
產(chǎn)品型號(hào)： V260-SM 品 牌： 美國(guó)泛美 價(jià)格電議,您可以向供應(yīng)商詢價(jià)得到該產(chǎn)品價(jià)格 所 在 地： 廣東深圳 更新日期： 2025-03-11 詳細(xì)信息品牌：美國(guó)泛美 型號(hào)：V260-SM 加工定制：否 類型：超聲波 測(cè)量范圍：5 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：0.05 kg 分辨率：20*22 V260-SM探傷儀探頭美國(guó)泛美 介紹
優(yōu)勢(shì)
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場(chǎng)分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測(cè)厚。
• 垂直聲束缺陷探測(cè)。
• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)。
sonopen可更換延遲塊探頭
• 聚焦的可更換延遲塊。
• 尖端直徑極小的特點(diǎn)可以提高在曲面及小缺口上的檢測(cè)性能。
• 手柄可以方便探頭頭部的定位。
頻率 標(biāo)稱
晶片尺寸探頭
工件編號(hào)MHz 英寸 毫米 平直手柄 直角手柄 45°手柄 15 0.125 3 V260-SM V260-RM V260-45
* 高溫延遲塊可在溫度高達(dá)175°C（350°F）的情況下使用。Sonopen可更換延遲塊 尖端直徑 工件編號(hào) 英寸 毫米 0.080 2.0 DLP-3 0.060 1.5 DLP-302 0.080 2.0 DLP-301* -
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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http://m.btzpcdv.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
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- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
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- 涂層測(cè)厚儀
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- 電火花檢測(cè)儀
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- 附著力測(cè)試儀
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- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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