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V374-SU超聲波探傷儀探頭美國泛美
詳細信息| 詢價留言品牌：美國泛美 型號：V374-SU 加工定制：否 類型：超聲波 測量范圍：10 分辨率：20*22 尺寸：12 mm 重量：0.05 kg 分辨率：20*22 V374-SU超聲波探頭美國泛美
優勢
• 強阻尼寬帶設計提供了極佳的時間分辨率。
• 短波長可獲得極強的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應用
• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對陶瓷及高級工程材料進行檢測。
• 可對材料進行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設置。
高頻標準水浸外殼
• 永久熔融石英延遲塊。
• 聚焦單元使用一個高質量的光學研磨透鏡。
• F202適配器可固定被動UHF連接器和主動Microdot連接器
• 將高頻率和小外殼設計的特點結合在一起。
參閱型號規格:頻率 標稱
晶片尺寸延遲 聚焦長度 探頭
工件編號MHz 英寸 毫米 微秒 英寸 毫米 20 0.25 6 4.25 平 V354-SU 0.25 6 2.5 0.75 19 V372-SU 0.25 6 4.25 1.25 32 V373-SU 0.25 6 4.25 2 51 V374-SU 30 0.25 6 4.25 平 V356-SU 0.25 6 2.25 0.75 19 V375-SU 0.25 6 4.25 1.25 32 V376-SU 0.25 6 4.25 2 51 V377-SU 50 0.25 6 4.25 平 V358-SU -
留 言
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