 |
-
美國GE貝克休斯測(cè)厚儀探頭SEB4
詳細(xì)信息品牌：美國GE 型號(hào)：SEB4 加工定制：否 用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國 美國GE貝克休斯測(cè)厚儀探頭
應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)規(guī)則簡(jiǎn)單的大型工件檢測(cè)
•鍛件、坯料檢測(cè)
•板材、棒材、方型材
•容器、機(jī)器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測(cè)
功能特和優(yōu)勢(shì)
•歐式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長(zhǎng)探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標(biāo)準(zhǔn)探頭連接器安裝在側(cè)面，頂部接口可選
•美式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 保護(hù)膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護(hù)膜可無限期延長(zhǎng)探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進(jìn)行檢測(cè)。
– BNC 連接器，側(cè)面或頂部安裝
這些探頭基本上能滿足所有常規(guī)檢測(cè)要求。這些常規(guī)探頭都能用于各種標(biāo)準(zhǔn)超聲探傷儀。這些探頭性能優(yōu)越，可靠性高，能滿足非常嚴(yán)格的應(yīng)用要求，精度高，我們探頭的技術(shù)參數(shù)都能控制在允許的誤差范圍內(nèi)。雙晶探頭 型號(hào) 頻率（MHZ） 換能器尺寸（mm） 尺寸Φ(mm) 高度（mm） SEB* 1, 2, 4 6 x 20 or 7 x 18 45 65 MSEB* 2, 4, 5 3 x 10 or Ø 8 (halved) 25 45 SEB*KF 2, 4, 5, 6, 10 Ø 7 or Ø 5 (halved) 13 17 直探頭 B+S
MB*S1, 2, 4, 5
2, 4, 524
1045
2559
43K*G
K*N
K*K1, 2, 4, 6
2, 4, 6, 10
2, 5, 10, 1524
10
545
25
1160
43
17B*F
MB*F1, 2, 4, 5
2, 4, 5, 6, 1020
1031
1915
15斜探頭 頻率（MHZ） 晶片尺寸（mm×mm） 長(zhǎng) 寬 高 WB 35-*
WB 45-*
WB 60-*
WB 70-*
WB 80-*
WB 90-*
MWB 35-*
MWB 45-*
MWB 60-*
MWB 70-*
MWB 80-*
MWB 90-*2, 4
1, 2, 4
1, 2, 4
1, 2, 4
2, 4
2
2, 4
2, 4
2, 4
2, 4
2, 4
420 x 22
8 x 9
53.5
53.5
53.5
53.5
53.5
53.5
27
27
27
27
27
2729
29
29
29
29
29
15
15
15
15
15
1545
45
45
45
45
45
22
22
22
22
22
22
美國GE貝克休斯超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•完全不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果 -
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：taili668@vip.163.com
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址： https://taili668.cn.goepe.com/
http://m.btzpcdv.cn
-
產(chǎn)品分類
-
工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
-
計(jì)量測(cè)試儀
-
環(huán)境暖通測(cè)試
-
光纖通信測(cè)試
-
電子電工測(cè)試儀
-
其他
-
