 |
-
美國(guó)GE貝克休斯探頭MB2F
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：MB2F 加工定制：否 用途：探傷儀測(cè)厚儀探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE貝克休斯探頭MB2F
應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)規(guī)則簡(jiǎn)單的大型工件檢測(cè)
•鍛件、坯料檢測(cè)
•板材、棒材、方型材
•容器、機(jī)器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測(cè)
功能特和優(yōu)勢(shì)
•歐式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長(zhǎng)探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標(biāo)準(zhǔn)探頭連接器安裝在側(cè)面，頂部接口可選
•美式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 保護(hù)膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護(hù)膜可無(wú)限期延長(zhǎng)探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進(jìn)行檢測(cè)。
– BNC 連接器，側(cè)面或頂部安裝
美國(guó)GE常規(guī)探頭 這些常規(guī)探頭都能用于各種標(biāo)準(zhǔn)超聲探傷儀。這些探頭性能優(yōu)越，可靠性高，能滿足非常嚴(yán)格的應(yīng)用要求，精度高，我們探頭的技術(shù)參數(shù)都能控制在允許的誤差范圍內(nèi)。我們的每個(gè)探頭都經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的質(zhì)量控制，每個(gè)探頭都有詳細(xì)的符合DIN 25450標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)參數(shù).
-
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：taili668@vip.163.com
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址： https://taili668.cn.goepe.com/
http://m.btzpcdv.cn
-
產(chǎn)品分類
-
工業(yè)無(wú)損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺(jué)質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
-
計(jì)量測(cè)試儀
-
環(huán)境暖通測(cè)試
-
光纖通信測(cè)試
-
電子電工測(cè)試儀
-
其他
-
