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美國(guó)GE歐式探頭K1G
詳細(xì)信息品牌：GE 型號(hào)：K1G 加工定制：否 用途：超聲波探頭 是否進(jìn)口：是 產(chǎn)地：美國(guó) 美國(guó)GE歐式探頭K1G
探頭分為兩大類(lèi)：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
通常：對(duì)所有類(lèi)型零件內(nèi)部或近表面分布缺陷的探測(cè)和評(píng)估。 可以用于有保護(hù)膜的探頭不適合于有鋒利邊緣的物體檢測(cè)。帶硬質(zhì)陶瓷接觸表面的直探頭 主要特性：
·單晶探頭，實(shí)現(xiàn)超聲波的發(fā)射和接收
·縱波垂直傳輸
·光滑表面上具有很高增益和非常好的分辨率
·陶瓷接觸面探頭抗磨損性能好
·特殊的平指尖式探頭
·帶可更換延遲線的探頭具有極好的近場(chǎng)分辨率
通常：對(duì)所有類(lèi)型零件內(nèi)部或近表面分布缺陷的探測(cè)和評(píng)估。
可以用于有保護(hù)膜的探頭不適合于有鋒利邊緣的物體檢測(cè)。K1G
K2G
K4G24
24
241
2
415-2300
10-4000
7-800023
45
887
3.5
1.81-24
2-24
4-24K1N
K2N
K4N
K5N
K6N10
10
10
10
101
2
4
5
615-420
7-2500
5-5000
4-6300
3-76004
8
16
20
238
3.5
1.8
1.5
1.21-10
2-10
4-10
5-10
6-10K2K
K5K
K10K
K15K5
5
5
52
5
10
157-300
5-2100
2-3000
2-38002.0
5.0
10
152.5
1.5
1
0.72-5
5-5
10-5
15-5 -
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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