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美國GE歐標超聲探頭MSEK2
詳細信息| 詢價留言品牌：GE 型號：MSEK2 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE歐標超聲探頭MSEK2
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
歐標主要特性
•獨立的聲波發射和接收單元
•縱波垂直傳輸
•小焦距探頭具有非常好的近場分辨率
•使用耐磨的塑料延遲線，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性
•延遲線由一個金屬環保護以防磨損
•在焦點內特別適合剩余壁厚的測量
•加上特殊的延遲線（特殊產品）能夠在高溫表面測量
美國GE歐標超聲探頭MSEK2類型[訂購號碼] a×b [mm] f [MHz] AB* [mm] N [mm] EB [mm] 聲束形狀編號 備注 DA0.8G 20Ø 0.8 3-400 35 8 0.8-20/2 用于高衰減材料 SEB1
SEB2
SEB2-0°
SEB4
SEB4-0°21Ø
7×18
7×18
6×20
6×201
2
2
4
43-400
2-1000
4.5-2000
1.5-2000
4-400020
15
30
12
2510
5
5
2.5
2.51-21/2
2-7×18
2-7×18-0
4-6×20
4-6×20-00°意味著兩個單元的公共角度是0°
帶寬100%MSEB2
MSEB4
MSEB4-0°
MSEB511Ø
3.5×10
3.5×10
9Ø2
4
4
52-400
1-1500
1.5-2000
0.5-2008
10
18
105
2.5
2.5
12-11/2
4-3.5×10
4-3.5×10-0
5-9/2SEB2KF5
SEB4KF8
SEB5KF38 Ø
8 Ø
8 Ø2
4
51.5-350
0.8-400
0.5-806
6
34
2
12-8/2
4-8/2
5-8/2SEB10KF3 5 Ø 10 0.3-140 3 0.5 10-5/2 SEZ5M5 3 Ø 5 0.6-50 3 1 5-3/2 固定電纜(2m) SEK2C 7×18 2 1.5-1500 15 4 2-7×18 MSEK2
MSEK411 Ø
3.5×102
41.5-450
1-20008
104
22-11/2
4-3.5×10
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留 言
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