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美國(guó)GE超聲波直探頭B1SL
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)GE 型號(hào)：B 系列 加工定制：否 類型：超聲波 測(cè)量范圍：3500 分辨率：高 尺寸：20 mm 重量：0.1 kg 分辨率：高 美國(guó)GE超聲波直探頭B1SL
應(yīng)用
般檢測(cè)目的，簡(jiǎn)單形狀的大零件
鍛件，鑄件
板材，棒材，方型材
容器，機(jī)器零件，殼體
高溫檢測(cè)時(shí)帶延遲塊
性能特征
歐款有可更換膜:
在不平整和曲面上增進(jìn)耦合
延長(zhǎng)探頭壽命
適于DGS缺陷評(píng)定
可連接高溫延遲塊
Lemp1(BS)或Lem 00(B S)連接端口，標(biāo)準(zhǔn)為側(cè)裝，頂裝可選
美款有三種類型的保護(hù):
膜可以在不平整和曲面上增進(jìn)耦合,
帽定期更換可無期限延長(zhǎng)探頭壽命
高溫延遲塊可以實(shí)現(xiàn)，00°F(00°C)表面檢測(cè)
BNC 連接端口，頂裝或側(cè)裝帶保護(hù)膜探頭一歐洲規(guī)格
B1S
57744 240.94123 0.9
230.9符合 DINEN 12668-2B1S-EN500035240.941
B1S-0
B2S
23 0.9頂端接口57755 240.941
57745 240.94245 1.8
B2S-EN45 1.8符合 DIN EN 12668-2500036 240.942
B2S-057756 240.94245 1.8頂端接口
符合 DINEN 12668-2B2S-0-EN 500267 240.94 245 1.8頂端接口
B4S
88 3.557746 240.94 4
B4S-EN500037 240.94 488 3.5符合 DIN EN 12668-2
B4S-057757 240.94 488 3.5頂端接口
符合 DINEN 12668-2B4S-0-EN 500268240.94488 3.5頂端接口
B5S57747240.94 51104.3
MB2S57748 100.3928 0.3
500038100.39280.3符合DINEN12668-2MB2S-EN
MB2S-057975 100.3928 0.3頂端接口
MB4S57749 100.39416 0.6
MB4S-EN500039 100.394160.6符合DINEN 12668-2
MB4S-057976 100.394160.6頂端接
MB5S57750100.39520 0.8
MB5S-057977 100.3920 0.8頂端接口
B0.05N
B0.05NN
B0.05U/E
B0.05U/S
B0.1N
B0.1NN
B0.5SL
B1F-E
B1KE
B1KS
B1S-E
B1S-EX
B1SL
B1S-OE
B1Y
B2F-E
B2S-E
B2S-EX
B2SL
B2S-OE
B2S-X
B2Y
B4F-E
B4S-E
B4S-EX
B4S-OE
B5F-E
B5S-E -
留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
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http://m.btzpcdv.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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