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日立HITACHI手持式X射線熒光分析儀X-MET8000
詳細信息| 詢價留言品牌：日立HITACHI 型號：X-MET8000 加工定制：否 光源：X射線 波長范圍：1610 nm 焦距：400 mm 外形尺寸：300 mm 重量：1500 g 適用范圍：土壤 金屬元素分析儀 
日立HITACHI手持式X射線熒光分析儀X-MET8000
簡介
數(shù)秒內(nèi)得到實驗室質檢結果，可提供快速無損的分析以及準確的牌號識別，實現(xiàn)理想的質檢和質保。該分析儀將高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器 (SDD) 結合在一起，能夠為客戶提供各種質量檢驗應用。
應用廣泛
廢舊金屬分揀，材料可靠性鑒定，無損金屬檢測，礦物勘探，符合性檢測，土壤分析等。 測量原理：X射線是指波長為0.001-50nm的電磁輻射，由于X射線的能量較高，原子的內(nèi)層電子吸收X射線的能量后會激發(fā)成為自由電子。然后，外層的電子會填補內(nèi)層電子的空位，這就是電子遷躍，電子躍遷的同時會放射X射線熒光。電子躍遷的能量等于兩電子能級之間的能量差，因此，X射線熒光的能量或波長是具有特征性的，與元素有一一對應的關系。只要測出熒光X射線的波長，就可以知道元素的種類。此外，熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據(jù)此可以進行元素的定量分析。
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