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美國(guó)BH貝克休斯接觸式雙晶直探頭SEB
詳細(xì)信息品牌：美國(guó)BH 型號(hào)：SEB 產(chǎn)地：美國(guó) 原理：聲波反射 符合：DIN EN 12668-2標(biāo)準(zhǔn) 晶片：雙晶片 材質(zhì)：金屬外殼 符合：DIN EN 12668-2標(biāo)準(zhǔn) 晶片：雙晶片 
美國(guó)BH貝克休斯接觸式雙晶直探頭
直通波束接觸式傳感器，雙晶片
應(yīng)用
·腐蝕剩余壁厚測(cè)量
·近表面探傷
·小部件-螺釘、螺栓、銷釘
·堆焊層檢測(cè)
·粘結(jié)檢測(cè)
·鐵路車輪檢測(cè)
·軸、棒、坯料的芯部缺陷
·適用于粗晶粒材料檢測(cè)
功能特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)
·出色的近表面分辨率
·提高了在彎曲和粗糙表面上的耦合效果
·減少散射噪聲
·可根據(jù)工件曲率加工探頭曲率
·歐式型號(hào)具有側(cè)面安裝的Lemo 00連接器、側(cè)面安裝的Microdot(SEB.KF型)
·美式型號(hào)具有固定的BNC線纜(ADP)或側(cè)面安裝的MMD(FDU)接口
線纜
SEKG2(53887
SEKM2(53001)
注釋
適用于SEBL、MSEB
適用于SEBKF
探頭型號(hào)
SEB 1
SEB 1-EN
SEB 2
SEB 2-EN
SEB 2-0°
SEB 2-EN-0°
SEB 4
SEB 4-EN
SB 4-00
SE4-EN-0°
MSEB 2
MSEB 2-EN
MSEB 4
MSEB 4-EN
MSEB 4-0°
MSEB 5
SEB 2 KF5
SEB 4 KFB
SEB 4 KF8-EN
SB 5F
SEB10 KF3
SEB10 KF3-EN
符合DIN EN 12668-2標(biāo)準(zhǔn)
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留 言
- 聯(lián)系人：牟淑蓉
- 電 話：0755-83981822/82513866
- 手 機(jī)：13662293689
- 傳 真：0755-83986906
- 郵 箱：taili668@vip.163.com
- 郵 編：518172
- 地 址：深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址： https://taili668.cn.goepe.com/
http://m.btzpcdv.cn
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產(chǎn)品分類
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工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
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計(jì)量測(cè)試儀
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環(huán)境暖通測(cè)試
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光纖通信測(cè)試
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電子電工測(cè)試儀
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其他
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