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德國Fischer測量分析超薄鍍層厚度儀器 XRAY XAN 250 和 XAN 252

簡介

FISCHERSCOPE XRAY XAN 250 和 XAN 252 兩款儀器都是結(jié)構(gòu)緊湊且應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光測厚及鍍層測厚儀，通常用于無損測量鍍層厚度及分析材料成分。

XAN 250 和 XAN 252 特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測量。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域

·在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中，測量功能性鍍層，鍍層厚度*薄可低至數(shù)納米

·出于保護(hù)消費(fèi)者為目的的痕量分析，如玩具中的鉛含量等

·在珠寶、手表業(yè)及金屬冶煉業(yè)中，以*高的精度分析合金成分

·高科院校的學(xué)術(shù)研究以及工業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)研發(fā)

為了使每次測量都能在良好的條件下進(jìn)行，儀器配備了可電動切換的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。先進(jìn)的硅漂移接收器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。

正如所有的 FISCHERSCOPE XRAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。對于高精度要求的測量任務(wù)，則可隨時(shí)進(jìn)行必要的校準(zhǔn)。

依靠 FISCHER的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下，準(zhǔn)確分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

德國FISCHER熒光測厚及材料分析儀XRAY XAN 250 和 XAN 252

XAN 250 和 XAN 252 兩款儀器都是用戶界面友好的臺式測量儀器。它們的區(qū)別在于工作臺及測量箱的尺寸。

·XAN 250:固定工作臺

·XAN 252: 手動 XY 工作臺，用于細(xì)小樣品的精確定位，并裝配了大體積測量室。

為了樣品定位簡單快捷，X射線發(fā)生器和半導(dǎo)體接收器都集成在儀器下部艙室中，因而樣品的底部是實(shí)際被測量面，樣品則由一層透明的薄膜托放在測量室中。

內(nèi)置可變焦視頻系統(tǒng)和定位十字線，可以方便地放置樣品，并進(jìn)行精確的測量點(diǎn)調(diào)整。

通過功能強(qiáng)大、界面友好的 WinFTM·軟件，可以在計(jì)算機(jī)上便捷地完成整個(gè)測量過程，以及測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。

FISCHERSCOPE XRAY XAN 250 和 XAN 252 滿足 DIN ISO 3497 標(biāo)準(zhǔn)和 ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)，型式許可符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV"法規(guī)的規(guī)定。