-
美國(guó)通用檢測(cè)GE超聲波探傷儀維修全系列
詳細(xì)信息品牌:美國(guó)通用檢測(cè) 型號(hào):全系列
包括:
USM33 超聲波探傷儀
USM33部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
USM35 DAC,USM35 DGS
USM35 部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
USMGO,USMGO+,USM86,USM88
部分故障類型:五位搖桿失靈,屏幕顯示黑屏和花屏,外殼損壞,無法充電,使用電池?zé)o法開機(jī),連接電源無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
USN60,USN60ND,USN60 L
部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,自動(dòng)關(guān)機(jī),無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
美國(guó)通用檢測(cè)GE超聲波探傷儀維修全系列
承接GE,KK各種型號(hào)超聲波探傷儀維修,包括:
USM33 超聲波探傷儀
USM33部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
USM35 DAC,USM35 DGS
USM35 部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
USMGO,USMGO+,USM86,USM88
部分故障類型:五位搖桿失靈,屏幕顯示黑屏和花屏,外殼損壞,無法充電,使用電池?zé)o法開機(jī),連接電源無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
USN60,USN60ND,USN60 L
部分故障類型:屏幕顯示黑屏和花屏,按鍵面板失靈,外殼損壞,自動(dòng)關(guān)機(jī),無法充電,無法開機(jī),充電器損壞,沒有超聲波回波和波形
-
留 言
- 聯(lián)系人:牟淑蓉
- 電 話:0755-83981822/82513866
- 手 機(jī):13662293689
- 傳 真:0755-83986906
- 郵 箱:taili668@vip.163.com
- 郵 編:518172
- 地 址:深圳市龍崗區(qū)龍翔大道9009號(hào)珠江廣場(chǎng)A2棟13D室
- 網(wǎng) 址: https://taili668.cn.goepe.com/
http://m.btzpcdv.cn
-
產(chǎn)品分類
-
工業(yè)無損檢測(cè)
- 鈷磁儀
- 電導(dǎo)率儀
- 磁導(dǎo)率儀
- 熱分析儀
- 磁粉探傷儀
- 渦流探傷儀
- 點(diǎn)焊檢測(cè)儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 漏磁檢測(cè)系統(tǒng)
- AR視覺質(zhì)量檢查
- CR數(shù)碼成像系統(tǒng)
- 流變儀
- 敲擊儀
- 光譜儀
- 測(cè)振儀
- 試驗(yàn)機(jī)
- 粗糙度儀
- 工業(yè)相機(jī)
- 探傷儀探頭
- 測(cè)厚儀探頭
- 硬度計(jì)探頭
- 涂層測(cè)厚儀
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 電火花檢測(cè)儀
- 鈍化膜測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 相控陣探傷儀
- 地下管線探測(cè)
- 脈沖發(fā)生接收器
- 螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
- 鐵素體含量測(cè)試儀
- 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
- X射線數(shù)字成像檢測(cè)系統(tǒng)
-
計(jì)量測(cè)試儀
-
環(huán)境暖通測(cè)試
-
光纖通信測(cè)試
-
電子電工測(cè)試儀
-
其他
-