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美國GE超聲波探傷儀探頭如何選擇？
2021-05-06 10:01:19 來源：深圳市泰立儀器儀表有限公司
用于測(cè)試材料特性
例如利用縱波橫波聲速計(jì)算彈性模量。
G…N，G…KB，G…K型
各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。
G…K型為
Microdot接頭。適合測(cè)量縱波聲速。
SM-P…型
各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個(gè)磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測(cè)量螺栓應(yīng)力。
K…NY，K…KY型
高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測(cè)量橫波聲速，適用于精密測(cè)厚儀。
注釋：
如有需要，橫波和縱波晶片可以同時(shí)封裝在一個(gè)外殼里。例 如 可 以 用 來 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度。
Z20m型
20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測(cè)量硬化層深度。
注釋：
硬化層和未硬化層之間的結(jié)構(gòu)突變是測(cè)量的先決條件。參見SD284。
Z10M型
10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適用于純度測(cè)量。
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